RENISHAW XL 80高性能雷射干渉計(jì)は工作機(jī)械、三次元座標(biāo)量ベッド及び他位置
の精度校正用の高性能機(jī)器です。最新の電子技術(shù)の応用により、レーザー波長(zhǎng)を
非常に安定させ、低コストで効率的な作業(yè)を守ります。

測(cè)定速度：205,000回測(cè)定/秒スキャンエリア：275 mm*250 mm弁論率：0.050 mm
精度：最高0.030 m m體積精度：0.02+0.06 mm/m基準(zhǔn)距離：300 mm
景深：250 mm部品サイズ範(fàn)囲：0.1-4 m

測(cè)定速度：480,000回測(cè)定/秒走査エリア：275 mm*250 mm弁論率：0.050 mm
精度：最高0.030 m m體積精度：0.02+0.06 mm/m基準(zhǔn)距離：300 mm
景深：250 mm部品サイズ範(fàn)囲：0.1-4 m

レーザートラッキング座標(biāo)測(cè)定の不確定度：全レンジ15μm+6μm/m
標(biāo)準(zhǔn)レンジ（2.5*5*10m）最大測(cè)定距離:半徑: 25M 半徑:9M水平方向360?垂直方向±45?

工作機(jī)械の校正と運(yùn)動(dòng)誤差検出技術(shù) サブミクロン精度で校正と検定を行います。
測(cè)定範(fàn)囲ピッチ角範(fàn)囲　- 20° から + 85°水平角の範(fàn)囲 測(cè)定範(fàn)囲0,2メートルから
15メートルまで 精度24時(shí)間のレーザー撮影基準(zhǔn)球の偏差　±0,1ミクロン干渉計(jì)の分解能
0,001ミクロン長(zhǎng)さ測(cè)定不確定度 (k=2) 0,2 微米 + 0,3 微米/米

體積が小さくて、重さが軽くて、向上力が強(qiáng)く活動(dòng)関節(jié)が調(diào)整可能です。
プローブピッチ 0-250mm調(diào)整可能感度 A型試験片、テストピースの表示が鮮明に表示
向上力:D型ヨークプローブ：ACは5 Kgより大きいです，DCは36 Kgより大きいです
応用　AC DC　大型の強(qiáng)磁性材料及び部品の局所的探傷235*115*160mm